Wykład: Metrologia

                                                                 

 

 Kierownik Przedmiotu: prof. dr hab. inż. Tadeusz Sałaciński

 Kierunki: Mechanika i Budowa Maszyn, Zarządzanie i Inżynieria Produkcji,  Automatyka i Robotyka


Tematyka poszczególnych wykładów

 

1.     Wprowadzenie do metrologii i SPC. Podstawowe pojęcia teorii pomiarów i SPC.

     Klasyfikacja i krótka charakterystyka narzędzi pomiarowych.

2.     Błędy pomiarów i ich przyczyny. Niepewności pomiarów.

3.     Niepewności pomiarów – zadania.

Analiza tolerancji i odchyłek.

4.     Analiza tolerancji i odchyłek cd.

5.     Łańcuchy wymiarowe.

6.     SPC – analiza zdolności procesu produkcyjnego.

7.     SPC – karty kontrolne.

 

 Literatura bazowa:   1. Sałaciński T.: Elementy metrologii wielkości geometrycznych. Przykłady i zadania. OWPW,

                                   Warszawa 2006.

                               2. Sałaciński T.: SPC - Statystyczne sterowanie procesami produkcji. OWPW, Warszawa

                                     2009.

 Literatura uzupełniająca: Jakubiec W., Malinowski J.: Metrologia wielkości geometrycznych. WNT, Warszawa 2004.


Elementy metrologii wielkości geometrycznych - spis treści

     Przedmowa

       1.      Niedokładność pomiaru wielkości geometrycznych

            1.1.   Podstawowe pojęcia teorii pomiarów wielkości geometrycznych

            1.2.   Analiza niepewności pomiarów wielkości geometrycznych

            1.3.   Analiza niedokładności dla błędów przypadkowych

            1.4.   Zadania do samodzielnego wykonania 

        2.      Analiza tolerancji i odchyłek wymiarów 

             2.1.   Wprowadzenie 

             2.2.   Pojęcia podstawowe 

             2.3.   Dobór pól tolerancji 

             2.4.   Dobór wartości tolerancji i odchyłek 

             2.5.   Wzory podstawowe 

             2.6.   Przykłady obliczeń 

             2.7.   Zadania do samodzielnego wykonania 

       3.      Łańcuchy wymiarowe technologiczne, wymiary nastawcze narzędzi 

             3.1.   Rachunki na wymiarach tolerowanych 

             3.2.   Łańcuchy wymiarowe 

             3.3.   Przykłady obliczeń 

             3.4.   Zadania do samodzielnego wykonania 

 4.      Podstawy obliczeń sprawdzianów 

             4.1.   Charakterystyka sprawdzianów do wałków i otworów 

             4.2.   Przykłady obliczeń 

             4.3.   Zadania do samodzielnego wykonania 

       5.      Elementy komputerowego wspomagania zagadnień statystycznych w metrologii

                     5.1. Definicje podstawowych pojęć statystyki stosowanej w metrologii

                     5.2. Podstawowe karty kontrolne

                     5.3. Analiza zdolności procesu

                     5.4. Automatyczna rejestracja wyników pomiarów z użyciem narzędzi cyfrowych

                        5.4.1. Wprowadzenie

                        5.4.2. Budowa stanowiska pomiarowego

                        5.4.3. Charakterystyka parametrów sprzętu pomiarowego

                        5.4.4. Opis oprogramowania

                        5.4.5. Teoria szacowania niepewności pomiarów

        6. Przykładowe pytania egzaminacyjne

        Literatura 

Przedmowa do skryptu

        Skrypt jest przeznaczony dla studentów I i II roku Wydziału Inżynierii Produkcji jako pomoc w przygotowaniu się do sprawdzianu z   metrologii oraz zajęć laboratoryjnych (w części teoretycznej). Przedmiot ten jest wykładany na wszystkich kierunkach studiów dziennych prowadzonych na tym wydziale: Mechanika i Budowa Maszyn, Automatyka i Robotyka, Zarządzanie i Inżynieria Produkcji. Skrypt zawiera zestaw przykładów i zadań niezbędnych do opanowania minimum wiedzy z zakresu metrologii wielkości geometrycznych. Każdy rozdział poprzedzony jest krótkim wprowadzeniem teoretycznym, w którym podano definicje i wzory podstawowych pojęć. Ostatni rozdział dotyczy komputerowego wspomagania zagadnień metrologicznych. Opisano w nim podstawy teorii pakietu programowego, który studenci wykorzystują w ramach niektórych ćwiczeń laboratoryjnych.


 

           

Statystyczne sterowanie procesami produkcji - spis treści

PRZEDMOWA

1.        SPC W INŻYNIERII JAKOŚCI

2.        ELEMENTY RACHUNKU PRAWDOPODOBIEŃSTWA I STATYSTYKI MATEMATYCZNEJ W ZASTOSOWANIACH SPC

2.1.      Wprowadzenie do statystyki matematycznej

2.2.      Definicje podstawowych pojęć rachunku prawdopodobieństwa i statystyki  matematycznej stosowanych w SPC

2.3.      Prezentacja danych w zastosowaniach SPC

2.4.      Przedziały ufności parametrów statystycznych

2.5.      Rozkłady zmiennych losowych

2.5.1.    Charakter  zmiennych  losowych

2.5.2.    Rozkłady zmiennej  losowej  o charakterze skokowym

2.5.3.    Rozkłady zmiennej losowej o charakterze ciągłym

2.6.      Testowanie normalności rozkładu zmiennej losowej

3.        ANALIZA STABILNOŚCI I ZDOLNOŚCI PROCESU PRODUKCYJNEGO

3.1.      Wprowadzenie do SPC

3.2.      Wymagania stawiane procesom produkcyjnym w aspekcie jakości

3.3.      Regulacja procesów za pomocą kart kontrolnych

3.3.1.    Podstawy budowy i typy kart kontrolnych

3.3.2.    Klasyczne karty kontrolne

3.3.2.1.    Karty kontrolne dla cech dyskretnych

3.3.2.2.    Karty kontrolne dla cech ciągłych

3.3.3.    Karty sekwencyjne

3.3.4.    Karty adaptacyjne

3.3.5.    Karta wielowymiarowa T2 Hotellinga

3.3.6.    Karty dla rozkładu innego niż normalny

3.4.      Zdolność procesu produkcyjnego

3.5.      Analiza stabilności i zdolności procesu produkcyjnego

4.        ANALIZA STABILNOŚCI I ZDOLNOŚCI SYSTEMÓW POMIAROWYCH

 DLA POTRZEB SPC

4.1.      Wymagania stawiane narzędziom i systemom pomiarowym

4.1.1.    Rozdzielczość

4.1.2.    Niepewność

4.1.3.    Dokładność

4.1.4.    Powtarzalność

4.1.5.    Odtwarzalność

4.1.6.    Stabilność

4.1.7.    Liniowość

4.2.      Metodyka analizy stabilności i zdolności systemów pomiarowych

4.3.      Niepewność pomiaru

4.3.1.    Niepewność a błąd pomiaru

4.3.2.    Szacowanie niepewności pomiarów wielkości geometrycznych

4.3.3.    Niepewność pomiaru na tle przedziału tolerancji

4.4.      Procedura 1 oceny systemu pomiarowego

4.5.      Procedura 2 oceny systemu pomiarowego (metoda R&R)

4.6.      Procedura 3 oceny systemu pomiarowego

5.        METODOLOGIA SZEŚĆ SIGMA (SIX SIGMA)

6.        SPC W KOMPUTEROWYM WSPOMAGANIU JAKOŚCI (CAQ)

7.        NARZĘDZIA I TECHNIKI WSPOMAGAJĄCE SPC

7.1.      Narzędzia analizy problemów w inżynierii jakości

7.2.      Diagram Ishikawy

7.3.      Diagram Pareto

7.4.      Schemat blokowy

SŁOWNIK I WYKAZ WAŻNIEJSZYCH OZNACZEŃ

LITERATURA

 

 PRZEDMOWA DO PODRĘCZNIKA

             Nowoczesne i otwarte na zmiany przedsiębiorstwo nie może obyć się bez sprawnie funkcjonującego systemu zarządzania jakością wyrobów i usług. Jedną z kluczowych ról w takim systemie odgrywa SPC, czyli statystyczne sterowanie procesami.

             W publikacji zawarto podstawową wiedzę (wraz z przykładami zastosowania) niezbędną do statystycznego sterowania procesami produkcyjnymi, w których jakość jest sprawą priorytetową. Na treść podręcznika składają się następujące zagadnienia:

  • wprowadzenie do SPC i systemów zarządzania jakością opartych na normach ISO 9001,

  • elementy rachunku prawdopodobieństwa i statystyki matematycznej wykorzystywane w ramach SPC:

- pozyskiwanie, sortowanie, gromadzenie i prezentowanie danych pomiarowych,

- podstawowe statystyki,

- rozkłady zmienności cech, testy wiarygodności,

  • technika kart kontrolnych,

  • analiza zdolności procesu produkcyjnego ze szczególnym uwzględnieniem wskaźników jakości,

  • MSA - analiza zdolności systemu pomiarowego dla potrzeb SPC,

  • metodologia Sześć Sigma,

  • SPC w komputerowym wspomaganiu jakości (CAQ),

  • metody i techniki wspomagające SPC.

Wszystkie zawarte w pracy przykłady opracowano z wykorzystaniem programu komputerowego STATISTICA (wersja 8PL) firmy StatSoft.

Podręcznik jest przeznaczony przede wszystkim dla studentów wydziałów politechnicznych o kierunkach Mechanika i Budowa Maszyn oraz Zarządzanie i Inżynieria Produkcji. Może być również wykorzystany przez inżynierów związanych bezpośrednio z produkcją i jej nadzorowaniem.